Спектрофотометр предназначен для регистрации зависимости доли света, прошедшего через объект, отраженного или рассеянного им, от длины волны, коэффициента пропускания и оптической плотности твёрдых и жидких проб. Используется в областях ближнего ИК, видимой части спектра и ближнего УФ.

Широкий набор приставок, держателей, кювет и других приспособлений делают данный прибор многофункциональным, позволяя исследовать образцы в различных состояниях: твердом, жидком, порошкообразном.

Основные технические характеристики:

– спектральный диапазон (175 – 3300) нм;

– диапазон измерений спектральных коэффициентов направленного пропускания от 0 до 100 %;

– пределы допускаемой абсолютной погрешности спектрофотометра при измерении спектральных коэффициентов направленного пропускания ± 1,0 %;

– пределы допускаемой абсолютной погрешности установки длин волн ± 1,0 нм;

– спектральная ширина щели в спектральном диапазоне (230 – 280) нм составляет (0,01 – 5,0) нм;

– уровень рассеянного света при длине волны 340 нм не более 0,05 %;

– максимальная скорость сканирования: до 2000 нм/мин в области УФ и видимой, до 8000 нм/мин в области ближнего ИК;

– время интегрирования сигнала от 0.033 до 999 с;

– частота сбора кинетических данных 1800 точек/мин;

– нерегистрирующая скорость сканирования в видимом и УФ диапазонах до 16000 нм/мин;

– нерегистрирующая скорость сканирования в видимом и в ближнем ИК диапазоне до 64000 нм/мин.

Пример работы:

Спектры отражения света для наночастиц серебра, титана, никеля и кобальта. По данным спектрам можно определить отражающую способность материалов.