Исследовательское Комплекс пробоподготовкиМикротвердомер Micromet 5114Инвертированный металлографический микроскоп отраженного света Carl Zeiss Axiovert 40 MATСтереоскопический трансфокальный микроскоп Nikon SMZ 1500Лазерный фазовый интерференционный микроскоп МИМ-2.1Атомно-силовой микроскоп Veeco Dimension VРастровый электронный микроскоп FEI Quanta 600 FEG с системой микроанализа EDAX Trident XM 4Спектрометр рентгенофлуоресцентный AxiosАнализатор рентгенофлуоресцентный портативный X-MET 5100Многофункциональный рентгеновский дифрактометр EmpyreanОже-спектрометр PHI 700Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр PHI QuanteraСпектрометр комбинационного рассеяния света (Рамановский спектрометр) Horiba Jobin Yvon T64000Спектрофлюориметр Cary EclipseСпектрофотометр Varian Cary 5000Лазерный анализатор частиц Malvern Zetasizer NanoПерестраиваемая лазерная система Opotek Vibrant LD 355 IIАвтоматический гелиевый пикнометр Ultrapycnometer 1200e для определения пористости и истинной плотности материаловБыстродействующий анализатор удельной поверхности и размеров пор NOVA 1000e, основывающийся на измерениях сорбции газов (BET-метод)Ультразвуковая установка «МУЗА» для измерения модуля Юнга и внутреннего трения материала в широком диапазоне температурВысокотемпературная установка испытаний материалов на растяжение, сжатие и изгиб в широком температурном диапазонеТермоанализатор NETZSCH STA 449 F1 Jupiter с блоком QMS 403 Aëolos для масс-спектрометрических измерений Высокотемпературный дилатометр NETZSCH DIL 402 E7/G-Py