Комплекс пробоподготовки

Комплекс определённых действий над объектом анализа для подготовки пробы к последующему анализу того или иного вида (например, шлифовка, полировка и травление).
Оператор: Ситников Николай Николаевич (495) 456-40-62 (прямой), (495) 456-64-12, (495) 456-85-72 (доб. 735) e-mail: nanocentre@kerc.msk.ru

Спектрометр комбинационного рассеяния света Horiba Jobin Yvon T64000

Спектроскопия комбинационного рассеяния (Рамановская спектроскопия) — спектроскопический метод изучения колебательных, вращательных и иных низкочастотных мод исследуемого вещества в интервале приблизительно от 2 до 4000 см-1, что позволяет определять характер химических связей широкого спектра веществ
Оператор: Казаков Валерий Алексеевич (495) 456-64-12, (495) 456-85-72 (доб. 770) e-mail: nanocentre@kerc.msk.ru

Оже-спектрометр PHI 700

Является новейшей, высокоэффективной системой предназначенной для анализа и предоставления информации об элементном составе поверхности образца, субмикронных элементах, тонких пленках и интерфейсах. Способен определить любые элементы в приповерхностных слоях образца, кроме H и He
Оператор: Сигалаев Сергей Константинович Тел.: 8(495)456-85-72 (доб. 768)
e-mail: nanocentre@kerc.msk.ru

Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр PHI Quantera

Обеспечивает высокую чувствительность и необходимый инструментарий для проведения элементного и химического анализа практически ко всему спектру существующих образцов, а также анализа отказов. Среди его возможностей − высокопроизводительная спектроскопия микрообласти по всем элементам кроме H и He, профилирование ионной пушкой, картрирование, автоматизированный анализ диэлектриков и др. Минимальная область сканирования 9 мкм
Оператор: Сигалаев Сергей Константинович Тел.: 8(495)456-85-72 (доб. 768)
e-mail: nanocentre@kerc.msk.ru

Растровый электронный микроскоп FEI Quanta 600 FEG с системой микроанализа EDAX Trident XM 4

Микроскоп позволяет получать изображения различных объектов с увеличением, превышающим 100 000 крат. Он предназначен для выполнения различных исследований с минимальными затратами времени на препарирование объектов, обеспечивая их наблюдение с исключительной глубиной резкости. FEI Quanta 600 FEG позволяют работать с разнообразными типами образцов (в том числе непроводящими, загрязненными, влажными образцами и образцами, способными к газовыделению при вакуумировании). Является самым востребованным прибором в нанотехнологической лаборатории, по интенсивности использования он превзошел даже рутинные оптические микроскопы.
Оператор: Соколова Наталья Алексеевна (495) 456-64-12, (495) 456-85-72 (доб. 672, 680) e-mail: nanocentre@kerc.msk.ru

Атомно-силовой микроскоп Veeco Demension V

Методы микроскопии и диагностики, доступные с имеющимся набором модулей: атомно-силовая (АСМ), поперечно-силовая, магнито-силовая (МСМ), емкостная, микроскопия сопротивления растекания, проводящая атомно-силовая, электро-силовая; а так же силовые измерения, оксидная литография, наноиндентирование. Разрешение по вертикали — 1нм; область сканирования — до 90 мкм. Для получения изображений используются кремниевые зонды с диаметром острия около 18 нм
Оператор: Савушкина Светлана Вячеславовна (495) 456-64-12, (495) 456-85-72 (доб. 667) e-mail: nanocentre@kerc.msk.ru

Сканирующий туннельный микроскоп НТК «Умка 02L»

Предназначен для исследования проводящих поверхностей объектов с высоким разрешением вплоть до атомарного. Низкотоковая модификация специально разработана для исследования плохопроводящих полимерных пленок и биологических объектов. Благодаря особенностям конструкции комплекса, он может работать на поверхостных точках утечки и сканировать объекты, ранее считавшиеся непригодными для изучения методами СТМ без дополнительных технологических операций (запыления металами и т.д.). Комплекс также может использоваться для исследования быстроокисляемых поверхностей и поверхностей с высокой адгезией
Оператор: Сивцов Кирилл ИгоревичТел.: 8(495)456-85-72 (доб. 136)
e-mail: nanocentre@kerc.msk.ru

Спектрофлюориметр Cary Eclipse

Сагу Eclipse обеспечивает работу в режимах измерения флюоресценции, фосфоресценции, хеми- и биолюминесценции. Сагу Eclipse дает возможность сбора 80 точек в секунду в режиме флюоресценции, что необходимо для изучения быстрых кинетических процессов
Оператор: Казаков Валерий Алексеевич (495) 456-64-12, (495) 456-85-72 (доб. 770) e-mail: nanocentre@kerc.msk.ru

Спектрофотометр Varian Cary 5000

Спектрофотометр предназначен для регистрации зависимости доли света, прошедшего через объект, отраженного или рассеянного им, от длины волны. Varian Cary 5000 используется в области ближнего ИК, видимой части спектра и области ближнего УФ
Оператор: Казаков Валерий Алексеевич (495) 456-64-12, (495) 456-85-72 (доб. 770) e-mail: nanocentre@kerc.msk.ru

Лазерная система Opotek Vibrant LD 355 II

Позволяет генерировать излучение в видимом, ультрафиолетовом и инфракрасном диапозоне. Позволяет исследовать нелинейные оптические свойства нанообъектов (неупругие спектры рассеяния (КР), спектры линейного и нелинейного отражения (ГВГ)) и проводить модификацию поверхностей различных материалов (плавление-рекристаллизация и др.)
Оператор: Казаков Валерий Алексеевич (495) 456-64-12, (495) 456-85-72 (доб. 770) e-mail: nanocentre@kerc.msk.ru

Лазерный анализатор частиц Malvern Zetasizer Nano

Позволяет определять размер, дзета-потенциал и молекулярный вес частиц или молекул, помещенных в жидкую среду. Рабочий диапазон определения размеров частиц: от 0.6 нм до 6 мкм. Рабочий диапазон определения размеров частиц для зета-потенциала: от 5 нм до 10 мкм. Диапазон определения молекулярного веса: 1×10^3 до 2×10^7
Оператор: Сигалаев Сергей Константинович (495) 456-64-12, (495) 456-85-72 (доб. 768) e-mail: nanocentre@kerc.msk.ru

Инвертированный металлографический микроскоп отраженного света Carl Zeiss Axiovert 40 MAT

Используется для исследования и контроля качества материалов. Отличительным качеством инвертированной модели микроскопа является расположение объективов под предметным столиком, что не ограничивает габариты объекта сверху
Оператор: Ситников Николай Николаевич (495) 456-40-62 (прямой), (495) 456-64-12, (495) 456-85-72 (доб. 735) e-mail: nanocentre@kerc.msk.ru

Стереоскопический трансфокальный микроскоп Nikon SMZ 1500

Один из самых совершенных стереомикроскопов Nikon SMZ 1500 создан специально для профессиональных исследователей. Обладает высоким коэффициентом трансфокации от 0.75x до 11.25x, комплектуется новейшими и передовыми принадлежностями для решения самых сложных задач. Благодаря этим функциям оператор может исследовать и фотографировать образцы, как в макро-режиме, так и микро-изображения с большим увеличением
Оператор: Ситников Николай Николаевич (495) 456-40-62 (прямой), (495) 456-64-12, (495) 456-85-72 (доб. 735) e-mail: nanocentre@kerc.msk.ru

Лазерный фазовый интерференционный микроскоп МИМ-2.1

Предназначен для измерения трехмерного микрорельефа поверхности с субмикронным разрешением и определения оптической плотности прозрачных микроструктур
Оператор: Руднштейн Роман Ильич (495) 456-85-72 (доб. 679)
e-mail: nanocentre@kerc.msk.ru

Автоматический гелиевый пикнометр Ultrapycnometer 1200e для определения пористости и истинной плотности материалов

Гелиевый пикнометр используется для определения истинной плотности и объёма порошков, катализаторов, фармацевтических препаратов, керамики, углей, строительных материалов, горных пород и т.д. Также прибор даёт возможность оценки закрытой пористости материалов
Оператор: Ивлиева Валерия Викторовна (495) 456-85-72 (доб. 675)
e-mail: nanocentre@kerc.msk.ru

Быстродействующий анализатор удельной поверхности и размеров пор NOVA 1000e, основывающийся на измерениях сорбции газов (BET-метод)

Автоматический анализатор удельной поверхности и размера пор NOVA разработан для определения пористости и удельной площади поверхности различных веществ.
Оператор: Ивлиева Валерия Викторовна (495) 456-85-72 (доб. 675)
e-mail: nanocentre@kerc.msk.ru

Ультразвуковая установка МУЗА для измерения модуля Юнга и внутреннего трения материала в широком диапазоне температур

Установка ультразвуковой диагностики даёт возможность измерить и исследовать температурную зависимость модуля Юнга и внутреннего трения материала в диапазоне температур от 20 до 2500 °С. Принцип действия установки основан на возбуждении резонансных механических колебаний в образце под действием возбуждающей силы переменной частоты. Резонансные характеристики вынужденных колебаний (частота и добротность) связаны с комплексом характеристик материала (дефектностью, плотностью и физико-механическими свойствами, такими как фазовая и структурная однородность (керамики, металлы, полупроводниковые и другие материалы).
Оператор: Ивлиева Валерия Викторовна (495) 456-85-72 (доб. 675)
e-mail: nanocentre@kerc.msk.ru

Высокотемпературная установка испытаний материалов на растяжение, сжатие и изгиб в широком температурном диапазоне

Высокотемпературная испытательная установка для определения механических свойств материалов предназначена для проведения механических испытаний материалов на растяжение, сжатие и изгиб в температурном диапазоне от комнатной температуры до 2000°С..
Оператор: Лаптев Иван Николаевич (495) 456-85-72 (доб. 678)
e-mail: nanocentre@kerc.msk.ru

Лазерный анализатор элементного состава веществ и материалов LEA-S500
Обеспечивает измерение массовой доли (концентрации) химических элементов и их соединений (окислов) в углеродистых сталях