Комплекс пробоподготовки

Микротвердомер Micromet 5114

Инвертированный металлографический микроскоп отраженного света Carl Zeiss Axiovert 40 MAT

Стереоскопический трансфокальный микроскоп Nikon SMZ 1500

Лазерный фазовый интерференционный микроскоп МИМ-2.1

Атомно-силовой микроскоп Veeco Dimension V

Растровый электронный микроскоп FEI Quanta 600 FEG с системой микроанализа EDAX Trident XM 4

Спектрометр рентгенофлуоресцентный Axios

Анализатор рентгенофлуоресцентный портативный X-MET 5100

Многофункциональный рентгеновский дифрактометр Empyrean

Оже-спектрометр PHI 700

Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр PHI Quantera

Спектрометр комбинационного рассеяния света (Рамановский спектрометр) Horiba Jobin Yvon T64000

Спектрофлюориметр Cary Eclipse

Спектрофотометр Varian Cary 5000

Лазерный анализатор частиц Malvern Zetasizer Nano

Перестраиваемая лазерная система Opotek Vibrant LD 355 II

Автоматический гелиевый пикнометр Ultrapycnometer 1200e для определения пористости и истинной плотности материалов

Быстродействующий анализатор удельной поверхности и размеров пор NOVA 1000e, основывающийся на измерениях сорбции газов (BET-метод)

Ультразвуковая установка «МУЗА» для измерения модуля Юнга и внутреннего трения материала в широком диапазоне температур

Высокотемпературная установка испытаний материалов на растяжение, сжатие и изгиб в широком температурном диапазоне

Термоанализатор NETZSCH STA 449 F1 Jupiter с блоком QMS 403 Aëolos для масс-спектрометрических измерений

Высокотемпературный дилатометр NETZSCH DIL 402 E7/G-Py